在小孔徑小公差的檢測中(主要是H7級公差及以下)的檢測,常見的方式是采用塞規檢測,但由于這類塞規由于設計公差范圍較小,采用塞規檢測方法,會存在以下弊端:
1、塞規制作成本高
根據工具車間和同行業的數據分析,只有塞規的公差大于0.003mm時,塞規才能保證95%以上的產品合格率;當小于0.0015mm時,只能保證33%的合格率;當小于0.0025mm且大于0.0015mm時,只能保證67%的合格率。
2、使用成本高
通端的下差和磨損極限的差值即為磨損量,磨損量越小,塞規的使用壽命越短。
3、計量困難
根據計量室反饋,由于設計公差范圍太小,約在0.014mm左右,加工難度大,無法讀取準確的數值,計量檢測無法保證,驗收合格率低。
4、產品加工困難
因為塞規吃掉了產品要求公差的一部分公差,導致產品加工時壓縮到產品圖要求尺寸的中差,因而對加工的要求也相應提高了。
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